Идентификация структуры и параметров исследуемого объекта на основе анализа частотных характеристик

Идентификация исследуемого объекта производится в ходе анализа графиков полученных логарифмических частотных характеристик. Для проведения анализа следует предварительно аппроксимировать ЛАЧХ отрезками асимптот, имеющих стандартные наклоны: 0дБ/дек, ±20дБ/дек, ±40дБ/дек, ±60дБ/дек. В результате характеристика будет представлена в виде ломаной. В качестве контрольных точек необходимо отметить частоты, на которых происходит излом характеристики (частоты сопряжения).

В ходе анализа принимается во внимание наклон ЛАЧХ на отдельных участках, частоты сопряжения, а также поведение ЛФЧХ. На первом этапе анализа определяется общий вид (структура) передаточной функции исследуемого объекта, для чего необходимо установить, какие элементарные динамические звенья входят в состав передаточной функции. На втором этапе идентифицируются параметры каждого из выявленных элементарных звеньев (коэффициент усиления, постоянные времени, коэффициенты демпфирования).

Рисунок 4.5 - аппроксимация ЛАЧХ исследуемого объекта асимптотами

Передаточная функция объекта будет иметь вид:

Где

Прочтите также:

Технология изготовления кристаллов полупроводниковых интегральных микросхем
Технология изготовления интегральных микросхем представляет собой совокупность механических, физических, химических способов обработки различных материалов (полупроводников, диэлек ...

Расчет параметров кремниевого диода
В формировании будущего специалиста по электронной технике наряду с фундаментальными дисциплинами значительная роль принадлежит курсу ‘Твердотельные приборы и устройства’. Он дает возмож ...

Модели полупроводниковых диодов
Цель работы: Изучить основные физические модели p-n переходов, находящихся в равновесном состоянии и при электрическом смещении, а так же модели ВАХ диодов, соответствующие различным про ...

Основные разделы

Copyright © 2008 - 2019 www.techmatch.ru