Элементы ИМС на МДП-транзисторах и КМОП-транзисторах

Цель: Научиться строить и анализировать работу схем элементов ИМС средствами Electronics WorkBenck

Ход работы:

В большинстве цифровых устройств обработка информации производится с помощью двоичного кода. Информационные сигналы принимают только два значения (1 и 0).

Рисунок 1- Элемент ИЛИ-НЕ на однотипном МДП-транзисторе

В данной схеме на входы поданы два сигнала, соответствующие логической единице. На выходе будет сигнал 0, так как два транзистора открыты и сигнал уходит через них. При подаче высокого уровня U хотя бы на один из выходов схемы, открывается соответствующий транзистор и на выходе устанавливается низкий уровень сигнала. Если на обоих входах логический ноль, то VT1 и VT2 — закрыты и на выходе формируется логическая единица.

Нагрузочный транзистор VT3 всегда открыт.

Рисунок 2 – Изображение анализатора

Рисунок 3- Элемент ИЛИ-НЕ на биполярном транзисторе

Рисунок 4 – Изображение анализатора

Рисунок 5 – Элемент ИЛИ-НЕ на КМОП-транзисторе.

Рисунок 6 – Результаты с анализатора

Рисунок 7 – Элемент И-НЕ на КМОП-транзисторе

Рисунок 8 – Результат с анализатора

Низкий уровень сигнала на выходах управляющих транзисторов VT1 и VT2 переводит их в закрытое состояние. При этом последовательно соединённые нагрузочные транзисторы VT3 и VT4 открыты и на выходе схемы устанавливается напряжение высокого уровня, равное напряжению источника питания.

Если хотя бы на один вход поступает сигнал логической единицы, то открывается соответствующий управляющий транзистор (VT1 или VT2), а связанный с ним нагрузочный (VT3 или VT4) закрывается. На выходе схемы устанавливается логический ноль.

Прочтите также:

Электронные компоненты
Прогресс современной техники, высокие требования к точности, помехозащищенности, быстродействию привели к усложнению электронных узлов и блоков радиоаппаратуры и оборудования. Усложне ...

Технология изготовления кристаллов полупроводниковых интегральных микросхем
Технология изготовления интегральных микросхем представляет собой совокупность механических, физических, химических способов обработки различных материалов (полупроводников, диэлек ...

Экспериментальная идентификация линейного динамического объекта методом корреляционных функций
Качественное управление техническими объектами невозможно без знания его свойств. Необходимая информация об этом может быть получена в процессе идентификации. Современные теоретиче ...

Основные разделы

Copyright © 2008 - 2020 www.techmatch.ru